1. Applied scanning probe methods
پدیدآورنده : / Bharat Bhushan, Harald Fuchs (Eds.
کتابخانه: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع : Scanning probe microscopy.,Scanning probe microscopy--Industrial applications,Materials--Microscopy
رده :
TA417
.
23
.
A655
2004
2. Applied scanning probe methods /
پدیدآورنده : Bharat Bhushan, Harald Fuchs, Sumio Hosaka [eds.]
کتابخانه: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع : Materials-- Microscopy,Scanning probe microscopy
رده :
TA417
.
23
.
A655
2004
3. Applied scanning probe methods II :
پدیدآورنده : Bharat Bhushan, Harald Fuchs (Eds.)
کتابخانه: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع : Materials-- Microscopy,Scanning probe microscopy,Scanning probe microscopy-- Industrial applications
4. Applied scanning probe methods IV: industrial applications
پدیدآورنده : Bharat Bhushan, Harald Fuchs [Eds.]
کتابخانه: (هرمزکان)
موضوع : Materials -- Microscopy,Scanning probe microscopy
5. Applied scanning probe methods V
پدیدآورنده : / Bharat Bhushan, Harald Fuchs, Satoshi Kawata (eds.)
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه محقق اردبیلی ره (أردبیل)
موضوع : Materials- Microscopy,Scanning probe microscopy,Scanning probe microscopy- Industrial applications
رده :
TA417
.
23
.
A655
2007
6. Applied scanning probe methods V
پدیدآورنده : / Bharat Bhushan, Harald Fuchs, Satoshi Kawata (eds.)
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه محقق اردبیلی ره (أردبیل)
موضوع : Materials- Microscopy,Scanning probe microscopy,Scanning probe microscopy- Industrial applications
رده :
TA417
.
23
.
A655
2007
7. Applied scanning probe methods VI
پدیدآورنده : / Bharat Bhushan, Satoshi Kawata (eds.)
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه محقق اردبیلی ره (أردبیل)
موضوع : Materials- Microscopy,Scanning probe microscopy,Scanning probe microscopy- Industrial applications
رده :
TA417
.
23
.
A655
,
2007b
8. Applied scanning probe methods VI
پدیدآورنده : / Bharat Bhushan, Satoshi Kawata (eds.)
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه محقق اردبیلی ره (أردبیل)
موضوع : Materials- Microscopy,Scanning probe microscopy,Scanning probe microscopy- Industrial applications
رده :
TA417
.
23
.
A655
,
2007b
9. Applied scanning probe methods VI
پدیدآورنده : / Bharat Bhushan, Satoshi Kawata (eds.)
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه محقق اردبیلی ره (أردبیل)
موضوع : Materials- Microscopy,Scanning probe microscopy,Scanning probe microscopy- Industrial applications
رده :
TA417
.
23
.
A655
,
2007b
10. Applied scanning probe methods VII
پدیدآورنده :
کتابخانه: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)
موضوع : Materials ; Microscopy. ; Scanning probe microscopy. ; Scanning probe microscopy ; Industrial applications. ; Biomimetics. ;
11. Kelvin probe force microscopy :
پدیدآورنده : Sascha Sadewasser, Thilo Glatzel, editors.
کتابخانه: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع : Atomic force microscopy.,Electrostatics-- Measurement.,Scanning probe microscopy.,Materials science.,Materials science.,Measurement.,Mensuration & systems of measurement.,Microscopy.,Nanotechnology.,Physical measurements.,Physics.,Precision instruments manufacture.,SCIENCE-- General.,Spectrum analysis, spectrochemistry, mass spectrometry.,Spectrum analysis.,Surfaces (Technology),Testing of materials.,Thin films.
رده :
QH212
.
A78
K45
2018
12. #Nanofabrication
پدیدآورنده : #editor, Ampere A. Tseng
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی اصفهان (أصبهان)
موضوع : Nanostructured materials ،Nanostructures ،Scanning probe microscopy ،Lithography, Electron beam
رده :
#
TA
،#.
N35
N252
،#
2008
13. Nanofabrication
پدیدآورنده : editor, Ampere A. Tseng
کتابخانه: كتابخانه مركزي دانشگاه بين المللي امام خميني (ره) قزوين (قزوین)
موضوع : Nanostructured materials,Nanostructures,Scanning probe microscopy,Lithography, Electron beam
رده :
TA
.
N35
,
N252
418
.
9
2008
14. Nanofabrication: fundamentals and applications
پدیدآورنده : editor, Ampere A. Tseng
کتابخانه: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه صنعتي خواجه نصير الدين طوسى (طهران)
موضوع : ، Nanostructured materials,، Nanostructures,، Scanning probe microscopy,، Lithography, Electron beam
رده :
TA
418
.
9
.
N35
N252
15. Scanning probe microscopy: characterization, nanofabrication and device application of functional materials
پدیدآورنده : edited by Paula Maria Vilarinho, Yossi Rosenwaks and Angus Kingon
کتابخانه: (سمنان)
موضوع : Congresses ، Materials- Microscopy,Congresses ، Scanning probe microscopy
رده :
TA
417
.
23
.
S33
16. Scanning probe microscopy: characterization, nanofabrication and device application of functional materials
پدیدآورنده :
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (طهران)
موضوع : Congresses ، Materials-- Microscopy,Congresses ، Scanning probe microscopy
رده :
TA
417
.
23
.
N384
2002
17. Scanning probe microscopy for industrial applications :
پدیدآورنده : edited by Dalia G. Yablon.
کتابخانه: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع : Materials-- Microscopy.,Scanning probe microscopy-- Industrial applications.
18. Scanning probe microscopy for industrial applications
پدیدآورنده : / edited by Dalia G. Yablon
کتابخانه: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع : Materials--Microscopy,Scanning probe microscopy--Industrial applications
رده :
TA417
.
23
.
S33
2014
19. Scanning probe microscopy in nanoscience and nanotechnology
پدیدآورنده :
موضوع : ، Scanning probe microscopy.,Microscopy ، Nanostrutured materials
۴ نسخه از این کتاب در ۴ کتابخانه موجود است.
20. Scanning probe microscopy in nanoscience and nanotechnology
پدیدآورنده : / edited by Bharat Bhushan
کتابخانه: المكتبة المركزية بجامعة تبريز و مركز التوثيق والنشر (أذربایجان الشرقیة)
موضوع : Scanning probe microscopy,Nanostructured materials - Microscopy
رده :
QH212
S33S383
2011
